REVO 5軸量測系統

REVO®系統可搭配一系列接觸式掃描模組、點觸發式模組、表面粗糙度檢測模組、超音波和影像模組，使用者能夠在同一台三次元量床(CMM)上選用適合的測頭模組量測多種工件特徵。

5 軸測量技術

與傳統CMM量測方法不同的是，Renishaw的 5 軸技術使用同步的CMM運動和測頭座軸，能大幅減少機台在超高速量測時所造成的動態誤差。

Renishaw 5 軸量測技術是在先進的測頭座、測頭和控制技術上，展現出超高的量測速度和靈活性，同時避免了傳統技術往往要面臨在速度和精度做取捨的缺點。這不僅能夠提高量測效率、縮短生產輔助時間，還可以幫助製造商更全面地掌握生產品質。

與電動轉向或固定式測頭座的量測系統不同，5 軸運動技術可以控制測針沿著一條環繞複雜工件的連續路徑量測，無需離開受測表面以更換測頭座角度。控制器演算法除了同步CMM和測頭座的運動之外，還可生成適合的測針端部運動路徑，盡可能減少CMM的動態誤差。

REVO 5 軸量測系統可作為新設備或認證升級，提供以下效益：

• 表面光潔度量測和尺寸檢測。

• 省下15%至50%循環時間。

• 充分發揮產能，大幅降低資本投資。

Renishaw提供各種針對REVO 5 軸多感應器量測最佳化的CMM。

RSP2 掃描測頭
RSP2 是專門用於 REVO 系統的輕量端部感應測頭模組，能進行 2D 掃描 (x、y) 和 3D 接觸觸發式量測。
RSP3 3D 掃描測頭
RSP3 是對 RSP2 測頭的補充，為 REVO 系統提供 3D 掃描 (x, y, z) 和曲柄測針功能。它可用於 3 軸掃描，例如在量測程序內使用固定的 REVO 測頭座角度。

SFP2 表面光潔度測頭
使表面光潔度檢測成為 CMM 量測程序不可或缺的一部分，並在掃描和表面光潔度功能間進行自動切換。
RSP3-6 延長掃描測頭
RSP3-6 能進入深孔並檢測大型工件內的特徵，提供更強大功能。其提供多種測針固定座，適合需要筆直和曲柄延長的應用，並可同時用於接觸觸發式和 2D 掃描應用。